Вход на сайт

Просмотр новости

Найдите то, что Вас интересует

Доклад «Испытательное оборудование на входном контроле» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»

Дата публикации: 10-08-2026 13:39:57

C докладом «Испытательное оборудование на входном контроле» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники» 22 октября выступят Климов Роман, коммерческий директор ООО «Совтест АТЕ» и Дмитрий Артемьев, начальник ОФК СТО ООО «Совтест АТЕ» Часть 1. Термостатирование и термоциклирование контактным и бесконтактными (в воздушной среде) способами, как наиболее эффективный метод отбраковки изделий Применение метода температурных...
Сообщение Доклад «Испытательное оборудование на входном контроле» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники» появились сначала на Время электроники.


Основное содержимое страницы с новостью.

Конференция состоится 22 октября в Москве

C докладом «Испытательное оборудование на входном контроле» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники» 22 октября выступят Климов Роман, коммерческий директор ООО «Совтест АТЕ» и Дмитрий Артемьев, начальник ОФК СТО ООО «Совтест АТЕ»

Часть 1. Термостатирование и термоциклирование контактным и бесконтактными (в воздушной среде) способами, как наиболее эффективный метод отбраковки изделий
Применение метода температурных испытаний (термоциклирование и термостатирование) при максимальных и минимальных температурах, заложенных в ТУ, с одновременным контролем электрических параметров сводит к 0 процент брака в выпускаемых партиях изделий.

Часть 2. Электротермотренировка — дополнительная проверка компонентов на этапе входного контроля
Комплексы электротермотренировки: параллельная тренировка и функциональный контроль разнотипных ИМС в одном комплексе, преемственность с оснасткой советского образца

Сайт конференции:  https://b2bconf.ru/testing/

Навигация по записям

Схожие новости

#Наименование новостиТональностьИнформативностьДата публикации
1Доклад «Входной контроль электронных компонентов на пластине и в корпусе» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»04.9113-08-2026
2Конференция «Испытание и тестирование изделий электронной техники»07.305-07-2026
3Доклад «Тестирование СВЧ элементов с малыми габаритными размерами (менее 3 мм)» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»08.1303-08-2026
4Компания «ПРОТЕХ» — Ключевой Партнер конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»07.9620-07-2026
5Доклад «От функционального тестирования к диагностике: как данные автоматизированных испытаний помогают выявлять скрытые дефекты электронных изделий» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»04.6820-08-2026
6Доклад «Особенности изготовления СВЧ плат для оснасток с рабочими частотами от 2 до 10 ГГц» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»010.5629-07-2026
7Доклад «Технологии импортозамещения в функциональном тестировании электронной техники: от перехода на отечественные PXIe/AXIe платформы, готовые решения по тестированию микросхем и созданию рабочих мест по функциональному тестированию РЭО» на конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»04.5418-08-2026
8ООО НПП «Универсал Прибор» — Флагманский Партнер конференции «Испытание и тестирование изделий электронной техники»17.0412-08-2026
9Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 15. Автоматизация оптической инспекции печатных плат015.3115-06-2026
10Технологическая конференция «Производство радиоэлектроники. Глобальное лето — 2026» Приглашаем руководителей, ...014.7523-07-2026

Классификация: Наука. Схожих патентов: 0. Схожих новостей: 10. Тональность: 0. Информативность: 6.34. Источник: russianelectronics.ru.